目前大多數(shù)共焦顯微鏡多為生物學研究設計，很多特點和功能偏離材料科學研究。PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)是專為材料光致發(fā)光測試而設計的。其功能實用，價位適中；激光光源，探測器類型以及光路設計采用光纖耦合，簡單易用，牢固可靠;標準化配置，可定制化改造；可改造顯微鏡適合深紫外激發(fā)到250nm；可以配置雙法測試，即同時配置TCSPC和FastFLIM。

PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)特點：

激發(fā)波長從深紫外266nm-1000nm可選；

光譜探測范圍：300nm-1700nm；

寬范圍時間壽命測量能力：標準100ps-100ms，頻域技術可低至10ps；

熒光強度和壽命成像可同時獲得（空間分辨率可達衍射極限低至250nm）；

光學切面3D掃描，三維熒光壽命成像，分辨率低至50nm；

具有多功能檢測能力，可靈活選配冷熱臺、高壓控制附件等；

集成設計，具有靈活定制擴展能力，可滿足客戶不同研究領域靈活配置，提升研究效率；

應用方向：

材料科學研究
半導體材料表征
太陽能電池材料

晶體材料
其他光致發(fā)光材料

常規(guī)測量能力

強度和熒光壽命成像

光致發(fā)光共焦強度成像

光致發(fā)光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點模式

FFS熒光變動光譜

熒光相關光譜（FCS)

光子計數(shù)直方圖（PCH）

熒光壽命相關光譜（FLCS）

單分子成像

Burst分析

單分子FRET熒光共振能量轉移分析

應用案例：

量子點：

上圖相量圖可獨立區(qū)分基體涂層量子點熒光壽命種類，直接從原始數(shù)據獲得。激發(fā)波長470nm，發(fā)射波長499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)

鈣鈦礦表征：

上圖是鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光（熒光）強度。ISS VistaVisiontion提供最小化數(shù)據擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規(guī)分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數(shù)據相矢量圖立即獲取（無需數(shù)據擬合），使得熒光壽命分析更簡便和準確。激發(fā)波長488nm；發(fā)射光譜通過635nm長通濾波器；掃描區(qū)域：20μm×20μm。

納米粒子熒光上轉換：

上圖是上轉換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發(fā)光強度和壽命。激發(fā)波長980nm，發(fā)射波長509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm。